|
Untitled Document
|
|
| |
Số đăng ký KQ |
2018-60-747/KQNC |
| |
Tên nhiệm vụ |
Nghiên cứu công nghệ chế thử màng giảm phản xạ cho linh kiện quang học của các thiết bị ảnh nhiệt |
| |
Tổ chức chủ trì |
Trung tâm Quang điện tử |
| |
Cơ quan cấp trên trực tiếp của tổ chức chủ trì |
Viện Ứng dụng Công nghệ |
| |
Cơ quan chủ quản |
Bộ Khoa học và Công nghệ |
| |
Cơ quan cấp kinh phí |
Viện Ứng dụng Công nghệ |
| |
Cấp quản lý nhiệm vụ |
Bộ |
| |
Chủ nhiệm nhiệm vụ |
ThS. Nguyễn Thành Hợp |
| |
Cán bộ phối hợp |
TS. Phạm Hồng Tuấn, KS. Nguyễn Tuấn Vũ, ThS. Trần Thị Hà, ThS. Nguyễn Văn Chiến, Nguyễn Thị Thanh Lan, CN. Phạm Kim Thu |
| |
Lĩnh vực nghiên cứu |
20499. Kỹ thuật hóa học khác |
| |
Năm viết
báo cáo |
2018 |
| |
Nơi viết
báo cáo |
Hà Nội |
| |
Số trang |
129 tr. + phụ lục |
| |
Tóm tắt |
Công nghệ chế tạo một số màng mỏng sử dụng cho vùng hồng ngoại. Nâng cao độ bám dính của hệ màng nhiều lớp. Thiết kế hệ màng giảm phản xạ vùng bước sóng từ 3-5 micromet cho vật liệu đế Si. Thử nghiệm mạ hệ màng giảm phản xạ vùng bước sóng từ 3-5 micromet cho vật liệu đế Si. Khảo sát, đánh giá chất lượng của các hệ màng giảm phản xạ chế tạo bao gồm độ bám dính, khả năng chịu mài mòn, ảnh hưởng của điều kiện môi trường. |
| |
Từ khoá |
Màng mỏng;Hệ màng nhiều lớp;Đế Si;Bước sóng;Độ bám dính |
| |
Nơi lưu trữ |
24 Lý Thường Kiệt, Hà Nội |
| |
Ký hiệu kho |
15077 |
| |
|
| |
Trạng thái |
Đã nghiệm thu |
| |
|
Tìm kiếm cơ bản Tìm kiếm nâng cao
|
|
Copyright © by NASATI
Tel: 04-39349923 -
Fax: 04-39349127
|
|
